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MAXXI 5荧光镀层测厚仪

MAXXI 5 拥有牛津仪器较大的样品舱。不论配置正比计数器或半导体探测器,MAXXI 5是不同形状和尺寸部件金属表面处理的一个多功能的工具。可选的程控样品台便于样品正确定位或扫描来验证电镀一致性。

微聚焦XRF镀层测厚及材料分析光谱仪,可用于电镀、PVDCVD操作的快速质量控制和验证测试,不论您在检测小配件、大组件或复杂配件,都能让您在几秒内轻松得到正确的结果。

我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术,该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析,可分析固体和液体,元素范围包括从元素周期表中的13Al92U

优化的微聚焦硬件和直观的用户界面,简化了常规分析,提高了产出,使用一键式操作可确保较简单的培训就能同专业技术人员得到一样的结果。高级用户能容易地理解X荧光光谱,获得定制的校准和探索未知的材料。


所有牛津仪器微聚焦XRF分析仪器符合ASTM B568,可测量单层和多层涂层,包括合金层。他们可以按电镀液或合金分析来校准。X-StrataMAXXI系列产品的设计满足质量控制或过程控制程序,以及研究实验室的应用。

X-Strata, Eco  MAXXI 系列产品是专为分析功能性镀层而设计的。

耐腐蚀性

验证所用涂料的厚度和化学性,以确保在恶劣环境中的产品功能和寿命。小的紧固件或大组件都可轻松处理。

耐磨性

防止产品故障,确保在磨料环境中的关键部件的涂层厚度和均匀性。复杂的形状,薄或厚的涂层和成品都可以测量。

精饰电镀

当目标是实现一个完美的电镀时,整个生产过程的质量控制是至关重要的。牛津仪器全系列检测设备,让您放心检验基材,测试中间和顶部镀层。

耐高温

在较极端的条件下操作的表面处理必须控制在严格的公差范围内。确保镀层符合规格,避免产品召回和潜在的灾难性故障。

正比计数器系统

半导体系统

宁波新志凌仪器有限公司    版权所有    技术支持:浙江七米

友情链接:仪器信息网

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